| letzte Aktualisierung: Datum: 2011-12-5 Uhrzeit: 9:13:47
1. Seit November können wir allen Kunden die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung vor Ort anbieten. Wir verwenden dazu ein mobiles Funkenspektrometer SpectroPort und das neue RFA Spectro XSort.
2. Wir haben unsere Ausstattung erweitert um ein LaserScanningMikroskop Keyence VK9710. Durch die im Vergleich zu normalen Lichtmikroskopen deutlich höhere Auflösung können Details auf Oberflächen und Schliffen beurteilt werden.
3. Unser REM und EDX wurde ausgetauscht. Mit dem Rasterelektronenmikroskop FEI XL30 und dem neuen EDX-Detektor von Bruker mit einer Energieauflösung von 125 eV stehen uns neue Möglichkeiten offen.
4. Metallographische und rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen sind jetzt Bestandteil des akkreditierten Bereiches. Im Rahmen des letzten Audits wurden diese Verfahren mit in den akkreditierten Bereich übernommen.
5. Durch die Verwendung einer neuartigen Glimmlampe mit gepulster HF-Entaldung wurde eine Verbesserung der Nachweisgrenzen um den Faktor 10 erreicht! Eine Analyse von Folien mit Dicken weniger µm ist somit ebenfalls möglich!
6. Quantitative GDOES-Tiefenprofilanalysen können nun bis zu einer Tiefe von 0,8 mm (!!!) und tiefer durchgeführt werden.
7. Durch eine Neuentwicklung/Optimierung von Teilen der Glimmlampe ist es uns gelungen quantitative GDOES-Tiefenprofilanalysen von kleinsten Proben durchzuführen. Im aktuellen Fall war der Durchmesser des Sputterkraters nur 1,0 mm! Es konnten mit diesen Bedingungen Tiefen von 700 µm (!!!) und mehr erreicht werden.
8. Das neue Funkenemissionsspektrometer SpectroLab M10 mit den Matrizes Eisen, Aluminium, Kupfer, Nickel und Titan ist seit 2 Jahren in Betrieb. Durch die hochauflösende Optik können wir nun Analysen bis in den Spurenbereich mittels Funkenspektrometrie durchführen. H, N, O und C können somit z. B. in Titanbasis analysiert werden.
9. Der Bereich Metallografie / Schadensanalytik wurde erweitert. Mit unserem neuen Lichtmikroskop Keycence VHX-600D sind Aufnahmen von 7- bis 1000facher Vergrößerung möglich. Durch den motorischen Z-Achsenantrieb sind automatisch erzeugte Bilderstapel generierbar.
10. Wir können in den quantitativen GDOS-Tiefenprofilanalysen nun organischen von anorganischem Kohlenstoff unterscheiden! Durch die Wahl verschiedener Linien kann der Anteil an organischen Bestandteilen "ausgeblendet" werden. Zudem ist eine Unterscheidung OH und NH möglich.
11. Wir haben seit 2008 ein Glimmentladungsspektrometer GDA750 mit Monochromator, Hochfrequenzquelle, Universaladapter, XY-Tisch, Turbomolekularpumpe, 52 Elementkanäle usw. Die Möglichkeiten sind enorm. Es ist uns damit u. a. gelungen
- Cadmium in verzinkten und/oder passivierten Bauteilen bis in den ppm-Bereich korrekt zu bestimmen.
- dünnste Oxdischichten von 1 - 3 nm Dicke korrekt zu quantifizieren
- H-Effekte in Verbindung mit ArH als Sputtergas zu minimieren
Thomas Asam
Stand 01/2010
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