Es gibt eine Vielzahl von
Veröffentlichungen über die Wechselwirkung von H
mit galvanischen Nickelüberzügen. Ziel der in den
Abbildungen dargestellten Analysen war die Beurteilung eines
Schadensfalles. Beim senkrechten Anschweißen von Mo-Stäben
auf eine ebene Oberfläche einer galvanisch hergestellten
Ni-Schicht war es bei einigen Werkstücken zu Blasenbildung
um die Schweißstelle und daraus resultierend zu Haftungsproblemen
gekommen. Andere Bauteile waren dagegen voll funktionsfähig
und belastbar.
Anhand der hier dargestellten, quantitativen GDOS-Tiefenprofilanalysen
sind die Unterschiede zwischen "guten" und "schlechten"
Schichten deutlich erkennbar. Sowohl die Konzentrationen
von H als auch von O, C und N variieren zwischen beiden
Proben. Während funktionstüchtige, gute Bauteile
nur eine geringe Konzentration dieser Elemente aufweisen,
kommt es bei fehlerhaften, schlechten Werkstücken zu
einer Anreicherung an Stellen mit erhöhter Affinität.
Dies kann auch an den Konzentrationsschwankungen des Matrixelementes
Ni erkannt werden. Zudem besitzt die funktionsfähige
Ni-Schicht ein relativ scharf abgegrenztes Interface, während
es bei der fehlerhaften Ni-Schicht zu einem "fließenden"
Übergang kommt. Die Schichtdicke der fehlerhaften Proben
beträgt immer 0,5 bis 1 µm mehr als die der funktionsfähigen
Schicht. Bemerkenswert ist allerdings das Fehlen der für
galvanische Schichten typischen Wasserstoffanreicherung
im Interface.
