GDOS, GDOES, GDO(E)S, Glimmentladungsspektroskopie, Glimmentladungsspektrometrie, Restaustenit, EDX, REM, AUGER, SIMS, TOF-SIMS, ESCA, AFM,

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Fachinfo / Glossar

Mit diesem Glossar möchten wir Ihnen die wichtigsten Fachbegriffe erklären.
( wird bei Bedarf erweitert.)

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AES	Auger electron spectroscopy
AFM	Atomic force microscopy
EDS / EDX	Energy dispersive spectrometry
EDX / EDS	Energy dispersive X-ray
EELS	Electron energy loss spectroscopy
EID	Electron induced desorption
ESCA / XPS	Electron spectroscopy for chemical analysis
GDOS	Glow discharge optical spectroscopy
ISS	Ion scattering spectroscopy
LAMMA	Laser microprobe mass analysis
LEED	Low energy electron diffration
PEEM	Photo emission electron microscopy
REM / SEM	Raster-Elektronenmikroskopie
RBS	Rutherford backscattering
RFA	X-ray fluoroscence analysis
RHEED	Reflection high-energy electron diffraction
SAM	Scanning auger mircroprobe
SE	Secondary electron
SEM / REM	Scanning electron microscopy
SIMS	Secondary ion mass spectroscopy
SNMS	Secondary neutral mass spectroscopy
TEM	Transmission electron mikroscopy
ToF-SIMS	Time of flight SIMS
UPS	Ultraviolet photoelectron spectroscopy
WDX / WDS	Wavelength dispersive analysis of X-ray
XPS / ESCA	X-ray photoelectron spectroscopy
ZAF	Atomic number, absorption, and fluoroscence correctionis pattern
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