GDOS Erklärungen

GDOS oder GDOES steht für Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy .

Neben der Detektion von Photonen in einem Optischen Emissionsspektrometer (GDOS) gibt es auch die Bestimmung von Molekülen oder Fragmenten in einem Massenspektrometer (GDMS). Tiefenprofile bis 100 µm und mehr sind mit GDOS kein Problem. Die Analyse von H und anderer leichter Elemente ist mit GDOS ebenfalls möglich.

Tiefenprofile mit GDOS bieten eine Reihe von Möglichkeiten. Durch die hohe Sputterrate in Verbindung mit hohen Nachweisgrenzen bieten quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen eine sehr gute Möglichkeit dicke Schichten schnell und zuverlässig zu analysieren. Im Gegensatz zu anderen oberflächenanalytischen Verfahren wie z.B. AUGER, ESCA / XPS, SIMS, TOF-SIMS oder SNMS können auch 100 µm und mehr schnell abgesputtert und analysiert werden. Während AUGER und ESCA nur ein sehr geringes Probenvolumen analysieren beträgt der Analysendurchmesser bei quantitativen GDOS Tiefenprofilanalysen 2,5 oder 4mm im Durchmesser.

In der Wärmebehandlung haben quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen bereits in vielen Bereichen die normale Metallografie ersetzt bzw. ergänzt. Verbindungsschicht, Porensaum, An- und Abreicherungen von Legierungselementen können durch quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen schnell und sicher bestimmt werden. Die Metallografie wird durch quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen deutlich entlastet und z. T. ersetzt. Beim Nitrieren oder Nitrocarburieren können alle wichtigen Informationen durch quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen in wenigen Minuten erzielt werden.

In der Galvanik und auch bei CVD/PVD-Beschichtungen ist eine einfache und schnelle Beurteilung der Ergebnisse durch quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen möglich.

Durch die Möglichkeit auch nichtleitende Schichten durch GDOS Tiefenprofilanalysen Beim nn untersuchen können jetzt auch Lackschichten, Oxidschichten, Gläser usw. untersucht werden. Eine Umrechnung der qualitativen GDOS Tiefenprofilanalysen in quantitative GDOS Tiefenprofilanalysen ist möglich. Durch die Entwicklung einer neuen Leistungsmessung wird die Genauigkeit der Quantifizierung der GDOS Tiefenprofilanalysen wesentlich erhöht.

Neben GDOS bzw. GDOES und GDMS gibt es jetzt auch noch die Möglichkeit mit einem Gasentladungsplasma Späne und andere kleinste Proben durch eine direkte Feststoffanalytik zu bestimmen. Vorteil ist hier wie, bei GDOS, eine Analyse ohne die Proben in einer Flüssigkeit auflösen zu müssen.