GDOS, GDOES, GDO(E)S, Glimmentladungsspektroskopie, Glimmentladungsspektrometrie,
Restaustenit, EDX, REM, AUGER, SIMS, TOF-SIMS, ESCA, AFM, |
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Wichtige Neuigkeit |
Mit Hilfe eines speziellen Adapters
können nun auch runde und gekrümmte Proben durch GDOS-Tiefenprofilanalysen
untersucht werden. Beispiele für die Analyse einer Chromcarbidschicht
auf einer runden Probenoberfläche finden Sie hier. Selbstverständlich
analysieren wir auch Ihre Proben.
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Metallografie |
Wir bestimmen für Sie Gefüge,
wie Porensaum und Verbindungs- schicht, Restaustenit oder Karbidanreicherungen
Ihrer Proben. Außerdem ermitteln wir Nht (Nitrierhärtetiefe)
und Eht (Einsatzhärtetiefe)! Härteprüfer für
Kleinlast und Mikrohärte sind vorhanden. Gerne beurteilen wir
Ihre Proben. Bruchunter- suchungen (z. B. Wasserstoff- versprödung)
mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) sind selbstverständlich!
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Wir bieten Ihnen an:
Quantitative
GDOS-Tiefenprofilanalysen Ihrer leitenden Schichten
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Qualitative
GDOS-Tiefenprofilanalysen Ihrer nichtleitenden Schichten
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Bestimmung der
chemischen Zusammensetzung Ihres Grundmaterials
weitere Info Informieren Sie sich
doch auch über die Auswahl an Produkten!
Sie können hier ganz einfach bestellen:
Calibration
Samples weitere
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Härtevergleichsplatten
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unserer Seminare anmelden
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