GDOS, GDOES, GDO(E)S, Glimmentladungsspektroskopie, Glimmentladungsspektrometrie, Restaustenit, EDX, REM, AUGER, SIMS, TOF-SIMS, ESCA, AFM,
  Home
  Aktuelles
Wichtige Neuigkeit
Mit Hilfe eines speziellen Adapters können nun auch runde und gekrümmte Proben durch GDOS-Tiefenprofilanalysen untersucht werden. Beispiele für die Analyse einer Chromcarbidschicht auf einer runden Probenoberfläche finden Sie hier. Selbstverständlich analysieren wir auch Ihre Proben.
Metallografie
Wir bestimmen für Sie Gefüge, wie Porensaum und Verbindungs- schicht, Restaustenit oder Karbidanreicherungen Ihrer Proben. Außerdem ermitteln wir Nht (Nitrierhärtetiefe) und Eht (Einsatzhärtetiefe)! Härteprüfer für Kleinlast und Mikrohärte sind vorhanden. Gerne beurteilen wir Ihre Proben. Bruchunter- suchungen (z. B. Wasserstoff- versprödung) mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) sind selbstverständlich!
Wir bieten Ihnen an:

  
Quantitative GDOS-Tiefenprofilanalysen Ihrer leitenden Schichten weitere Info

  Qualitative GDOS-Tiefenprofilanalysen Ihrer nichtleitenden Schichten weitere Info

  Bestimmung der chemischen Zusammensetzung Ihres Grundmaterials weitere Info

Informieren Sie sich doch auch über die Auswahl an Produkten!
Sie können hier ganz einfach bestellen:

  Calibration Samples weitere Info

  Härtevergleichsplatten weitere Info

  sich zu einem unserer Seminare anmelden weitere Info

AES-Spektrum
Typisch AES-Spektrum einer metallischen Probe Multi-Element-Spurenanalysen über 40-50 Elemente in Metallproben Keramischer Kristall in 4000 facher Vergrößerung Messunge mehrerer Punkte auf der Probe

    Copyright © 2003 Webdesign Gartner

Home  |  Impressum  |  Kontakt  |  Sitemap